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- 자외, 가시 영역, 적외의 넓은 파장 대역에서 사용할 수 있는 플레이트형 초 광대역 하프 미러입니다. - 다파장 레이저나 백색 광원의 투과 반사 분기에 사용할 수 있고, 초광대역의 하프 미러는 분광 계측용의 소자로도 이용할 수 있습니다. - 초광대역용(PMH)은 자외선으로부터 적외까지 커버할 수 있는 넓은 대역을 가져, 그 대역 파장을 바꾼 4 타입의 하프 미러를 라인 업 하고 있습니다. - 광대역용(PSMH)은 가시역용, 근적외용, 통신 적외용의 3가지 타입의 하프 미러를 갖추고 있습니다. - 유전체 다층막을 사용하여 막 흡수로 인한 광량 손실이 거의 없고 효율적으로 광량 분기할 수 있습니다. - 편광 특성이 크지 않아 레이저 광원이나 직선 편광의 광원으로 사용해도 광량 분기가 가능합니다.(주의참조) - 플레이트 타입이므로 기판을 투과할 때 발생하는 파장 분산이나 색수차가 작고 중량도 경량화할 수 있습니다. - 빔이 굴절되지 않는 평행 평면 타입과 이면 반사에 의한 고스트나 간섭의 영향이 적은 웨지 타입의 2타입이 있습니다. - 크기와 파장, 분기 대비 등, 카탈로그에 게재된 제품 이외의 물건의 제작이 가능합니다. - 반사 파면 정밀도 및 투과 파면 정밀도의 보증이 필요한 경우는, 문의해 주십시오. - 웨지 유형은 가장 두께가 두꺼운 곳에, 표면 방향으로 화살표가 표시되어 있습니다. - 각종 특성 그래프의 수치 데이터는 로 데이터를 참고해주세요. - 레이저광 등의 직선 편광 사용 시 편광 방위에 따라 반사율이나 투과율이 변화합니다. - 엄밀하게 분기 대비 1:1로 조정할 경우 편광 방위를 45도로 기울이거나 원편광으로 해서 사용해 주십시오. - 기판의 굴절률과 두께에 의한 효과로, 입사광에 대해 투과광의 광로가 수mm 평행 이동합니다. (웨지타입은 광로의 평행이동에 빔 편각 약 30분이 추가됩니다.) - 45도 이외의 입사각도로 사용한 경우 투과율 파장 특성이 변화합니다. - 반사코팅면을 판별할 수 없는 경우는, 기판측면의 화살표로 확인하여 주세요. - 입사광의 위상차는, 투과광, 반사광으로 저장되지 않습니다.위상차 보상에는 파장판을 이용해 주십시오. |
Laser Damage Threshold | 2.1J/cm2 |
Divergence ratio (reflectance | 1:1 |
Thickness t | 5mm |
Coating | Front surface ; Dielectric multilayer coating |
Rear surfaces ; Anti-reflection coating | |
Surface Quality (Scratch-Dig) | 10−5 |
Wavelength Range | 400-700nm |
Diameter φD | φ50mm |
Surface flatness | λ/10 |
Material | BK7 |
Transmittance (Average P and S) | 50±5% (average with respect to wavelength.)
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Incident angle | 45° |
Clear aperture | Circle that inscribed in a square of 90% of the dimensions |